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Etudes et Analyse de Surface

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    ToF-SIMS, analyse de surface, spectrométrie de masse de surface, imagerie moléculaire, profil en profondeur, analyse à basse température. Spectroscopie d'analyse de surface d'extrême surface (profondeur d'information : 1 à quelques monocouches), de très haute sensibilité (limite de détection: ppm à ppb) avec possibilités d'imagerie, de profil en profondeur et d'analyse à basse température.

    • La technique ToF-SIMS fonctionne sous ultra-vide et est basée sur le bombardement de la surface de l'échantillon par un faible nombre d'ions (SIMS statique) dans le domaine d'énergie du keV. Les fragments ionisés émis depuis la surface suite à ce bombardement sont analysés par un spectromètre de masse à temps de vol. Le faisceau d'ions incidents est focalisé et balayé permettant une imagerie. Un profil en profondeur peut être obtenu en combinant l'analyse à un décapage progressif des échantillons par un autre canon ionique. Un dispositif spécifique permet l'analyse à basse température.

      Pas d'accès autonome mais opération par personnel qualifié de l'équipe; dans le cadre d’une collaboration inter-universitaire, une participation aux frais d’entretien est demandée dans le cas d’une utilisation significative de l’équipement; dans le cadre d’une activité de prestation, une tarification est appliquée. Accès privilégié pour les membres de l'ICL.

    • ISA (Institut des Sciences Analytiques) -  UMR5280
       Département LSA (Laboratoire des Sciences Analytiques)
      Bâtiment Curien – Aile A – RDC

      Corinne GABLIN Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.
      Didier LEONARD Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.
      04 72 37 42 35 54

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